簡要描述:EC-770S 0-2000um鍍層薄膜涂層測厚儀0-2000um量程/精度0.1/誤差2%+1um/32位ARM雙核高速處理器/高精雙用探頭/中文操作界面/點陣液晶屏幕帶背光/簡單易用
0-2000um量程/精度0.1/誤差2%+1um/32位ARM雙核高速處理器/高精雙用探頭/中文操作界面/點陣液晶屏幕帶背光/簡單易用
2017重磅上市第三代全新升級10余項技術革新之作10年行業(yè)積淀
高精雙用探頭
易用的數(shù)據(jù)存儲、回放、統(tǒng)計、計算機下載采用128*128高分辨率點陣液晶
簡單、易用、全中文菜單界面
采用雙核處理架構,32位ARM處理器,顯著提升運算效率擁有全自動校準算法,省去人工反復校準
適合惡劣條件使用
0-2000um量程/精度0.1/誤差2%+1um/32位ARM雙核高速處理器/高精雙用探頭/中文操作界面/點陣液晶屏幕帶背光/簡單易用
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高精雙用探頭
易用的數(shù)據(jù)存儲、回放、統(tǒng)計、計算機下載采用128*128高分辨率點陣液晶
簡單、易用、全中文菜單界面
采用雙核處理架構,32位ARM處理器,顯著提升運算效率擁有全自動校準算法,省去人工反復校準
適合惡劣條件使用